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为什么涂层测厚仪有时测量不准确?

更新时间:2020-09-23   点击次数:1036次
  在每个领域的工业生产当中,生产出来的产品大家都要知道它的具体数据,在科技的不断发展当中,设备也逐渐先进化,从而让各种产品的参数和数据更加,这就是涂层测厚仪存在的意义,这些自动化仪器的度要求很高。
  涂层测厚仪采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。在化工,电子,电力,金属等行业中,为了实现对各类材料的保护或装饰作用,通常采用喷涂有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法,这样便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念,我们称之为“覆层”。
  为什么涂层测厚仪有时测量不准确?
  这是一个比较笼统的问题。因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对涂层测厚仪来说,主要有下面几种原因引起测量不准确。
  (1)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验,当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时,测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
  (2)人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化,并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体,使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时,要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响,在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长,以免造成基体本身磁场的干扰。
  (3)在系统矫正时没有选择合适的基体。基体醉小平面为7mm,醉小厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。
  (4)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时,选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
  (5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。